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日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo
產品簡介:

日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo-成都藤田科技提供
MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。

產品型號:

更新時間:2025-02-21

廠商性質:代理商

訪問量:72

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產品介紹

日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo-成都藤田科技提供



日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo

產品信息

ELSZ series的高級機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能,為了提高粒度分布的分離能力,采用了多角度測定。另外,也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池,通過新開發的對應高鹽濃度的涂層,可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中,從而擴大了生命科學領域的可能性。 在0~90℃的寬溫度范圍內,可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

特點

● 可對應從稀薄到濃厚溶液(~40%)寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量

● 通過多角度測定,可測量分辨率更高的粒徑分布

● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位

● 通過靜態光散射法可測量粒子的濃度

● 能過動態光散射法可測量微流變學

● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數,可以分析凝膠的網絡結構和不均勻性。

● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內進行測量

● 通過溫度梯度功能,可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析

● 通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析,提供高精度的ZETA電位測量結果,

● 可安裝熒光濾光器(選配)


用途

非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

● 新型功能材料領域

- 燃料電池相關(碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬)

- 納米生物相關(納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子)、納米氣泡等

● 陶瓷/著色材料工業領域

- 陶瓷(二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等)

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制(炭黑/有機顏料)

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

● 半導體領域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用

● 聚合物/化工領域

- 乳液(涂料/粘合劑)的分散/聚集控制,乳膠的表面改性(醫藥/工業)

- 聚電解質(聚苯乙烯磺酸鹽,聚羧酸等)的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

● 制藥/食品工業領域  

- 乳液(食品/香料/醫療/化妝品)分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測

- 脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑(膠束)機能性檢測


原理

粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關法)

由于溶液中的粒子根據粒子的大小在做布朗運動,粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現快速波動,大粒子呈現緩慢波動。
通過光子相關法分析這種波動,就可以求得粒度和粒度分布。

日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo

分析流程

日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo

zeta電位測量原理:電泳光散射法 (激光多普勒法)

對溶液中的粒子施加電場時,可以觀察到粒子電荷所對應的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光,根據散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒(Laser Doppler)法。


實測電滲流的優點

測量ZETA電位時,在樣品池內的粒子除了會泳動外,還會產生電滲流。電滲流是指在樣品池內壁面帶有負電荷時,溶液中的正離子會聚集于壁面附近。如施加電場時,壁面附近的正離子會往負離子電極方向移動,并在樣品池內中附近   產生的一種對流。

森·岡本公式
充分考慮電滲流后進行樣品池內泳動速度的解析

日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo

電滲透流應用于多成分解析

ELSZ Series通過實測樣品內多點觀察到的電泳移動度,可以確認測量數據內ZETA電位分布的再現性及判定雜質的波峰。

日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo

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