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產(chǎn)品中心

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日本Otsuka大塚ZETA電位測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

日本Otsuka大塚ZETA電位測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策,可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測(cè)量項(xiàng)目...

產(chǎn)品型號(hào):

更新時(shí)間:2025-02-21

廠商性質(zhì):代理商

訪問量:101

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日本Otsuka大塚ZETA電位測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚ZETA電位測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE

產(chǎn)品信息

特點(diǎn)

● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測(cè)定、粒子濃度測(cè)定、微流變測(cè)定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)定)

● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測(cè)量粒徑和zeta電位

● 可以測(cè)量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位

● 可以在高鹽濃度下測(cè)定平板狀樣品的zeta電位

● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量

● 通過溫度梯度功能,可對(duì)蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析

● 通過樣品池內(nèi)的實(shí)測(cè)電氣浸透流圖分析,提供高精度的ZETA電位測(cè)量結(jié)果

● 可安裝熒光濾光器(選配)


用途

非常適用于界面化學(xué)、無機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。


● 新型功能材料領(lǐng)域

- 燃料電池相關(guān)(碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬)

- 納米生物相關(guān)(納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子)、納米氣泡等。


● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域

- 陶瓷(二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等)

- 無機(jī)溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制(炭黑/有機(jī)顏料)

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究


● 半導(dǎo)體領(lǐng)域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用


● 聚合物/化工領(lǐng)域

- 乳液(涂料/粘合劑)的分散/聚集控制,乳膠的表面改性(醫(yī)藥/工業(yè))

- 聚電解質(zhì)(聚苯乙烯磺酸鹽,聚羧酸等)的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究


● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域  

- 乳液(食品/香料/醫(yī)療/化妝品)分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機(jī)能性檢測(cè)

- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑(膠束)機(jī)能性檢測(cè)


原理

粒徑測(cè)量原理:動(dòng)態(tài)光散射法(光子相關(guān)法)

由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運(yùn)動(dòng),粒子受到光照射時(shí)會(huì)得到的散射光。小粒子呈現(xiàn)快速波動(dòng),大粒子呈現(xiàn)緩慢波動(dòng)。通過光子相關(guān)法分析這種波動(dòng),就可以求得粒度和粒度分布。

日本Otsuka大塚ZETA電位測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE

   


分析流程

日本Otsuka大塚ZETA電位測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE

zeta電位測(cè)量原理:電泳光散射法 (激光多普勒法)

對(duì)溶液中的粒子施加電場(chǎng)時(shí),可以觀察到粒子電荷所對(duì)應(yīng)的電泳動(dòng)。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動(dòng)度。
電泳散射法將光照射在泳動(dòng)中的粒子上得到散射光,根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒(Laser Doppler)法。

日本Otsuka大塚ZETA電位測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE    




參數(shù)


測(cè)量原理

粒徑

動(dòng)態(tài)光散射法(光子相關(guān)法)

ZETA電位

電泳光散射法(激光多普勒法)


分子量

靜態(tài)光散射法


光學(xué)系統(tǒng)

粒徑

零差光學(xué)系統(tǒng)

ZETA電位

外差光學(xué)


分子量

零差光學(xué)系統(tǒng)


光源

高功率半導(dǎo)體激光器


探測(cè)器

高靈敏度APD


樣品池單元

ZETA電位:標(biāo)準(zhǔn)池 微量一次性池或濃縮池


粒度/分子量:方形池



溫度

0~90℃(帶溫度梯度功能)


電源

220V ± 10% 250VA


尺寸(WDH)

330(W)×565(D)×245(H)


重量

22Kg




測(cè)量范圍


ZETA電位

No effective limitations(無有效上限)

電氣移動(dòng)度

-2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s

粒徑

0.6nm ~ 10um


● 對(duì)應(yīng)范圍

測(cè)量溫度范圍

0~90℃

測(cè)量濃度范圍

Zeta電位:0.001~40% 粒徑:0.00001%(0.1ppm)~40%*1

*1(標(biāo)準(zhǔn)粒子: 0.00001 ~ 10%、牛磺酸: ~ 40%)


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