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日本Otsuka大塚OPTM series嵌入分光膜厚儀成都藤田科技提供 用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。...

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供 產品信息 特 點 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界快速的0.1秒以下來處理） 無驅動部，重復再現性高 設置的測量項目少，測量簡單...

日本Otsuka大塚PP-1000薄膜小角激光散射儀-成都藤田科技提供 PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光Hv散射測量可以進行光學各向異性的評價，解析結晶性薄膜的球晶半徑，偏光Vv散射測量可以進行聚合物混合的相

日本Otsuka大塚FE-5000橢偏儀可在紫外波長-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量實現高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...

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