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日本大塚Otsuka
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日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供 MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
日本Otsuka大塚MINUK光波動場三次元顯微鏡-成都藤田科技提供 MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學分析專家-成都藤田科技提供 側重便攜性與快速篩查,適用于常規單層膜厚測量,但精度與功能擴展性不及OPTM系列。 OPTM適用于研發(R&D)與高精度QC,如半導體晶圓、光學濾光片;Smart膜厚儀更適合產線快速抽檢
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