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日本Otsuka大塚 MCPD-6800多通道波長光譜儀-成都藤田科技提供 根據用途的各種檢測器的陣容 以高檔次的機型MCPD-9800為首,擁有兩個系列,共達9個波長范圍的檢測器型號。 可配合客戶的需求與測量用途,選擇適合的檢測器。 測量項目與所對應的檢測器
日本Otsuka大塚 MCPD-9800多通道波長光譜儀-成都藤田科技提供 根據用途的各種檢測器的陣容 以高檔次的機型MCPD-9800為首,擁有兩個系列,共達9個波長范圍的檢測器型號。 可配合客戶的需求與測量用途,選擇適合的檢測器。 測量項目與所對應的檢測器
日本Otsuka大塚OPTM series顯微分光膜厚儀-成都藤田科技提供 MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
日本Otsuka大塚ZETA分子量測試系統ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
日本Otsuka大塚ZETA電位測試系統ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
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