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日本Otsuka大塚ZETA粒徑ELSZ-2000ZS測試儀-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測量項目...

日本Otsuka大塚ZETA電位·ELSZ-2000ZS測試儀-成都藤田科技提供$n產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測量項目...

日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測量項目...

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色光刻膠測量-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...

日本Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀-成都藤田科技提供 即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板(強酸環(huán)境中)于減薄制程中的厚度變化